pct蒸煮老化箱具有超温自动断电保护功能，双重二级保护系统，确保仪器及试件的安全，节能环保是当今先进的老化试验设备。

    pct蒸煮老化箱一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%R.H.)[饱和水蒸气]及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印刷线路板(PCB&FPC)，用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验..等试验目的，如果待测品是半导体的话，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路..等相关问题。

    高温蒸煮老化试验箱是用来试验 电线、电缆、 绝缘体或被覆之橡胶试片，以比较试片老化前与老化后之抗拉强度及伸长率。换气式老化试验箱以热风循环方式，促使试片老化，内箱密闭性强，具有抽换内箱空气装置，设有超温自动切断保护装置，符合ul-1581试验要求。

   

pct蒸煮老化箱的性能

    操作环境需在室温30℃以下且通风良好之条件下进行.

    1.温度范围: 110℃/ 132℃. (饱和蒸气温度)。

    2.湿度范围: 100%RH . (饱和蒸气湿度)。

    3.压力范围: 0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制点压力(安全压力容量3.5Kg/cm2 )。

    4.时间范围: 0 ~ 999 小时可调。

    5.温度分布:(+/-)2.0℃。

    6.升温时间:RT ~ 132℃约35分钟内. （控制点温度）7.加压时间:0.0Kg/cm2~ 2.0Kg/cm2约40分钟内（控制点压力）。

   

pct蒸煮老化箱的控制系统：

    1.微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器。

    2.本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…。

    3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度。